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產(chǎn)品展示

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低溫環(huán)境箱

簡要描述:AY-WGD-100A低溫環(huán)境箱適用于軍工、航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、汽車各種電子元氣件在高低溫環(huán)境下、檢驗其各項性能指標。

  • 產(chǎn)品型號:AY-WGD-100A
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-01-19
  • 訪  問  量:8421
詳細介紹
品牌其他品牌價格區(qū)間2萬-5萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,電子,交通,制藥,汽車

低溫環(huán)境箱適用于軍工、航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、汽車各種電子元氣件在高低溫環(huán)境下、檢驗其各項性能指標。
性能特點:
1.具有及寬的溫度控制范圍和*的控制精度,可滿足國家標準GB/T2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》1、2項的試驗要求。
2.采用平衡調(diào)溫方式,可調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境,可進行高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。
3.制冷控制:PLC根據(jù)箱內(nèi)溫度的設(shè)定值和實際值自動控制壓縮機和制冷閥,滿足不同的試驗要求,減少設(shè)備運行功率,確保壓縮機的安全運行。

低溫環(huán)境箱規(guī)格與技術(shù)參數(shù):

型號(MM)

AY-GDW-50L

AY-GDW-100L

AY-GDW-150L

AY-GDW-225L


工作室尺寸

350*400*350

400*500*500

500*500*600

500*600*750


外型(D*W*H)

820*860*1350

900*960*1450

1000*960*1450

1000*1060*1710


型號(MM)

AY-GDW-408L

AY-GDW-500L

AY-GDW-800L

AY-GDW-1000L


工作室尺寸

700*800*850

700*800*900

800*1000*1000

1000*1000*1000


外型(D*W*H)

1200*1260*1810

1200*1260*1860

1300*1460*1960

1500*1460*1960


性能指標

溫度范圍

A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃ D:-70℃~150℃


波動均勻度

±0.5℃/±2℃


升溫速率

1.0~3.0℃/min


降溫速率

0.7~1.0℃/min





統(tǒng)

控制器

單點韓國AX或日本富士儀表;可編程TEMI880觸摸式液晶儀表.

精度范圍

設(shè)定和指示精度:溫度±0.1℃

溫濕傳感器

鉑金電阻 PT100Ω/MV


加熱系統(tǒng)

全獨立系統(tǒng),鎳鉻合金電加熱式加熱器


制冷系統(tǒng)

法國原裝“泰康"全封閉風冷式單級/復(fù)迭壓縮機制冷方式


循環(huán)系統(tǒng)

耐溫低噪音空調(diào)型電機.多葉式離心風輪


材料

外箱材質(zhì)

A3鋼板靜電噴塑處理

內(nèi)箱材質(zhì)

SUS304不銹鋼拉絲板

保溫材質(zhì)

超細玻璃纖維綿

標準配置

照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔(50或100mm)1個


安全保護

漏電、短路、超溫、-過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護


電源電壓

AC380V±10% 50±0.5Hz 三相四線制


亦可根據(jù)用戶的具體要求定做非標型試驗設(shè)備


符合標準:
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件 
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件  
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1:2011 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗GJB 150.3A-2009jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GB/T2951.12-2008/IEC 60811-1-2:1985;GB/T2951.14-2008/IEC 60811-1-4:1985

 


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